A nanotecnologia ganha uma nova ferramenta para a evolução de suas pesquisas. É um microscópio capaz de captar imagens com maior sensibilidade que o microscópio de força atômica, AFM na sigla em inglês, usado atualmente em experimentos nanométricos (1 nanômetro é igual a 1 milímetro dividido por 1 milhão). A novidade surgiu nos laboratórios do Instituto de Tecnologia Geórgia (Georgia Tech), dos Estados Unidos, e teve o financiamento da Fundação Nacional de Ciência, NSF na sigla em inglês, e do Instituto Nacional da Saúde. Chamado de Force Sensing Integrated Readout and Active Tip (Firat), algo como força integrada de leitura sensível e ponta ativa, ele é cem vezes mais rápido que o AFM na captura de imagens, com a possibilidade também de filmar os experimentos e decifrar as características físicas da amostra. O novo instrumento possibilita medições de nanoestruturas com qualidade não oferecida pelo AFM em áreas como microeletrônica, além de propiciar imagens de ensaios moleculares.
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